お知らせNews

太陽電池に関連する特許出願いたしました

2008/05/22/

ニュース

実デバイスに近いコンタクト孔の構造と測定方法で、チャージダメージを敏感に測定して 工程歩留まりを改善させるサービスを始めました。

2007/12/26/

製品リリース

DRAM製造方法に関する特許出願(特開2005-260091)を審査請求しました

2007/05/15/

ニュース

CMP評価のためのCuめっき100nmトレンチ標準ウエハX2005の最新断面SEM写真を撮影しました

2006/09/13/

ニュース

研究・開発に“ストライエイションの無いエッチング技術”を追加しました

2006/08/30/

ニュース